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產(chǎn)品中心

PRODUCT CENTER

電壓跌落發(fā)生器

單相10A周波跌落發(fā)生器VDT S10

型號：VDT S10

電壓暫降、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時(shí)做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。周波跌落發(fā)生器用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標(biāo)準(zhǔn)要求。

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直流跌落發(fā)生器VDT DC

型號：VDT DC

直流跌落發(fā)生器VDT DC主要針對由直流配電系統(tǒng)供電的電氣和電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)，受到供電電源電壓暫降、短時(shí)中斷或電壓變化的抗擾度所帶來的影響提供一個(gè)評定依據(jù)。直流電壓跌落發(fā)生器VDT DC性能符合IEC61000-4-29和 GB/T17626.29的要求。

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三相10A周波跌落發(fā)生器VDT T10

型號：VDT T10

電壓暫降、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時(shí)做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。周波跌落發(fā)生器用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標(biāo)準(zhǔn)要求。

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單相20A電壓跌落測試儀VDT S20

型號：VDT S20

電壓暫降、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時(shí)做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。電壓跌落測試儀用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標(biāo)準(zhǔn)要求。

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三相20A電壓跌落測試儀VDT T20

型號：VDT T20

電壓暫降、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時(shí)做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。電壓跌落測試儀用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標(biāo)準(zhǔn)要求。

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電壓跌落發(fā)生器

型號：VDT 11101

電壓暫降、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時(shí)做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。電壓跌落發(fā)生器用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的性能 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.11《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓跌落、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-11：Electromagnetic compatibility-Testing and measurement techniques-Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity test

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